接觸式ATC840三溫測試臺
ThermoTSTATC840通過接觸頭與 DUT之間直接接觸，將DUT的溫度(殼溫 或者結溫)調整到目標溫度點進行相應的 性能測試。同時適用于已焊接的芯片和 使用socket 的芯片，可以真正做到只控 制待測芯片溫度而不影響外圍電路，排 除外圍電路引起的不確定性。
溫度控制單元具有高功率和高靈活性的特點，可以通過定制來適應不同的芯片 封裝和接口。該系統允許對各種功率、尺寸和類型的芯片施加溫度，無論是使 用 Socket 還是已經焊接到PCB 上的芯片。
應用
適用于IC特性、測試和失效分析：
ATE,SLT和工作臺
高低溫測試箱/低溫冷卻機代換 OEM集成
接觸式ATC840三溫測試臺
◎系統組成
·主機：可根據具體需求選取合適的溫度區間這是整個控制系統的核心。
·測試頭前端：實現測試頭和待測芯片的連接以及能量傳導。測試架一方 面起到固定的作用另一方面也適用于沒有socket 器件的測試。
·干燥壓縮氣源：使用干燥壓縮氣源(一般是空氣或氮氣)的目的是一方面 防止低溫測試環境產生冷凝水或結霜現象，另一方面是為氣動系統提供 壓力?？梢愿鶕褂脠鏊木唧w情況考慮合適的供氣方式。
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